产品特色
product feature
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■ 100MHz测试频率
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■ 512数字信号管脚 (最高可至576数字信号管脚)
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■ 并行测试可达512工位同测数
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■ 32/64/128M 向量深度
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■ 多样弹性VI电源
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■ 弹性化硬件结构 (可互换式I/O, VI, ADDA)
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■ Real Parallel Trim/Match功能
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■ 时序频率测试单位 (TFMU)
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■ AD/DA功能板卡(16/24 bits) (可选配)
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■ SCAN向量存储深度(最高2G bits/Chain) (可选配)
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■ ALPG测试选配供内存IC用
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■ STDF工具支持
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■ 测试程序/Pattern转换器 (J750, D10, S50/S100, E320, SC312, V7, TRI-6020, ITS9K)
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■ 人性化Window 7操作系统
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■ CRAFT C/C++程序语言
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■ 软件接口与3380P/3360P相同
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■ Direct Mount治具可相容于3360P Probe Card
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■ Cable Mount治具可相容于3360D与3360P
为因应未来IC芯片须具备更高速度及更多脚位及更复杂功能的IC芯片，新一代VLSI测试系统3380P/3380除采用更弹性架构外，整合密度更高且功能更强大。
3380P/3380机型为因应高同测(High Parallel Test)功能，除内建独特的4-wire功能高密度IC电源(VI source)外，更具备Any Pins to Any Site高同测功能(512 I/O pin可并行测512个测试芯片)，以因应未来IC芯片更高的测试需求。
3380P同时具备All-ln-One (Only Test Head) 的小型化、低耗能化设计及非常具竞争性的机台性价比。
3380系列VLSI测试系统无论在装机、稳定度、友善使用接口、及成本效益上，长期以来皆已于中国市场获得广泛印证。
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具高竞争性的机台性价比3380P具备高竞争性的机台性价比. -
小型化、低耗能化设计3380P同时具备All-ln-One (Only Test Head) 的小型化、低耗能化设计. -
已于中国大陆市场获得广泛印证3380系列VLSI测试系统无论在装机、稳定度及成本效益上，长期以来皆已于中国大陆市场获得广泛印证. -
涵盖广泛的应用范围MCU, Consumer Logic, Power (Class D), Smart Card/RFID, LED Driver, ADC/DAC (Mixed-Signal) ; SCAN, ALPG, Match...etc.
应用领域
MCU, Consumer Logic, Power (Class D), Smart Card/RFID, LED Driver, ADC/DAC (Mixed-Signal) ; SCAN, ALPG, Match...etc.
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| 选择 | 型号 | 叙述 |
|---|---|---|
| 3380P | VLSI 测试系统 |
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