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ATE测试系统
ATE测试系统
  • 测试系统 3380P
    测试系统 3380P

    100MHz测试频率

    512数字信号管脚 (最高可至 576数字信号管脚)

    并行测试可达512工位同测数

    32/64/128M 向量深度

  • 测试系统 3380
    测试系统 3380

    100MHz测试频率

    1024数字信号管脚 (最高1280数字信号管脚)

    高达1024工位并行测试

    32/64/128 向量深度

Chroma半导体SoC测试系统
  • 先进 SoC 测试系统 3680
    先进 SoC 测试系统 3680

    24个可互换插槽,用于数字、模拟和混合信号应用

    最高1Gbps数据速率

    最高2048工位并行测试

    多达2048个数字通道管脚

  • 无线射频功能单板 HDRF2
    无线射频功能单板 HDRF2

    4 VST, 32射频端口

    精准稳定Direct Mount连接方式

    8/16 Sites测试

    Wi-Fi、BT、Sub 6GHz、IOT、GPS、LoRa、NB-IoT

  • 高精度混合讯号单板 HDAVO
    高精度混合讯号单板 HDAVO

    每个板卡包含8个AWG和8个Digitizer通道

    为AWG和Digitizer提供高速模式和高分辨率模式

Chroma半导体SoC/模拟测试系统
  • SoC/模拟测试系统 3650-S2
    SoC/模拟测试系统 3650-S2

    12个通用插槽,全部插槽都可配置数字、模拟和混合信号集成电路测试单板使用

    多达768个数字和模拟测试通道

    时钟频率: 50 / 100 MHz

    32 MW向量存储深度

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