产品特色
product feature
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■ 100MHz测试频率
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■ 1024数字信号管脚 (最高1280数字信号管脚)
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■ 高达1024工位并行测试
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■ 32/64/128 向量深度
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■ 16M Capture Memory Per Pin
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■ 多样化VI电源
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■ 弹性化硬件架构 (可互换式1/O, VI, ADDA)
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■ Real Parallel Trim/Match 功能
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■ 时序频率测试单位 (TFMU)
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■ 高速时序测试单位 (HSTMU)
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■ 支持STDF工具
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■ 测试Program/Pattern转换器 (J750, D10, S50/S100, E320, SC312,V7, TRI-6036等)
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■ AD/DA功能板卡 (可选配)
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■ SCAN向量存储深度 (最高2G bits/chain)(可选配)
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■ ALPG测试功能可供内存IC用 (可选配)
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■ CRAFT C/C++程序语言
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■ 软件接口与3380P/3360P相同
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■ 人性化的Windows 7操作系统
为因应未来IC芯片脚位数更多、速率更高、整合功能更为复杂的发展驱势,Chroma以此发展方向提供新一代3380系列VLSI测试机台,包含 3380P、3380机型,根据不同的脚位数或同测能力(Parallel Test),提供需求与成本效益兼具的测试解决方案。
此系列机型之一的VLSI测试系统3380,具有最高1280 I/O Pins、256 VI、弹性化架构、以及完整选项功能板(ADDA/High-Voltage DPS)等特色;可符合高同测的市场驱势,具备1024 I/O Pins可同测1024个芯片的能力。除了独特的4-Wire高密度IC电源(Vl source)外,弹性化可调整的架构还可提供Mini&Macro LED驱动IC、CMOS影像传感器(CIS)、及3D影像测试等解决方案;以利涵盖更广泛的IC测试功能与应用范围。
3380 VLSI测试系统可无缝接轨3380P(512pins),以因应更高的产能需求。3380系列VLSI测试系统无论在装机、稳定度、友善使用接口、及成本效益上,长期以来皆已于大陆市场获得广泛印证。
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提供需求与成本效益兼具的测试解决方案根据不同的脚位数或同测能力 (Parallel Test),提供需求与成本效益兼具的测试解决方案. -
符合高同测的市场驱势具备1024 1/O pin可同测1024个芯片能力. -
涵盖更广泛的IC测试功能与应用范围可弹性化调整架构可提供Mini & Macro LED驱动IC、CMOS影像传感器(CIS)、及3D影像测试等解决方案. -
装机数、稳定度及成本效益获得广泛印证3380系列VLSI测试系统无论在装机、稳定度及成本效益上,长期以来皆已于中国大陆市场获得广泛印证.
应用领域
- ■ 微控制器单元(MCU)
- ■ ADC/DAC混合和讯号IC
- ■ 逻辑IC
- ■ ADDA
- ■ ALPG
- ■ Smart Card
- ■ Mini & Macro LED驱动IC
- ■ LED驱动IC
- ■ CMOS影像传感器(CIS)
- ■ 电源IC (Class D IC)
- ■ 消费性IC
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| 选择 | 型号 | 叙述 |
|---|---|---|
| 3380 | VLSI测试系统 |
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