测试系统 3380
测试系统 3380
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产品特色
product feature
  • ■ 100MHz测试频率
  • ■ 1024数字信号管脚 (最高1280数字信号管脚)
  • ■ 高达1024工位并行测试
  • ■ 32/64/128 向量深度
  • ■ 16M Capture Memory Per Pin
  • ■ 多样化VI电源
  • ■ 弹性化硬件架构 (可互换式1/O, VI, ADDA)
  • ■ Real Parallel Trim/Match 功能
  • ■ 时序频率测试单位 (TFMU)
  • ■ 高速时序测试单位 (HSTMU)
  • ■ 支持STDF工具
  • ■ 测试Program/Pattern转换器 (J750, D10, S50/S100, E320, SC312,V7, TRI-6036等)
  • ■ AD/DA功能板卡 (可选配)
  • ■ SCAN向量存储深度 (最高2G bits/chain)(可选配)
  • ■ ALPG测试功能可供内存IC用 (可选配)
  • ■ CRAFT C/C++程序语言
  • ■ 软件接口与3380P/3360P相同
  • ■ 人性化的Windows 7操作系统

为因应未来IC芯片脚位数更多、速率更高、整合功能更为复杂的发展驱势,Chroma以此发展方向提供新一代3380系列VLSI测试机台,包含 3380P、3380机型,根据不同的脚位数或同测能力(Parallel Test),提供需求与成本效益兼具的测试解决方案。

此系列机型之一的VLSI测试系统3380,具有最高1280 I/O Pins、256 VI、弹性化架构、以及完整选项功能板(ADDA/High-Voltage DPS)等特色;可符合高同测的市场驱势,具备1024 I/O Pins可同测1024个芯片的能力。除了独特的4-Wire高密度IC电源(Vl source)外,弹性化可调整的架构还可提供Mini&Macro LED驱动IC、CMOS影像传感器(CIS)、及3D影像测试等解决方案;以利涵盖更广泛的IC测试功能与应用范围。

3380 VLSI测试系统可无缝接轨3380P(512pins),以因应更高的产能需求。3380系列VLSI测试系统无论在装机、稳定度、友善使用接口、及成本效益上,长期以来皆已于大陆市场获得广泛印证。

 

  • 提供需求与成本效益兼具的测试解决方案
    提供需求与成本效益兼具的测试解决方案
    根据不同的脚位数或同测能力 (Parallel Test),提供需求与成本效益兼具的测试解决方案.
  • 符合高同测的市场驱势
    符合高同测的市场驱势
    具备1024 1/O pin可同测1024个芯片能力.
  • 涵盖更广泛的IC测试功能与应用范围
    涵盖更广泛的IC测试功能与应用范围
    可弹性化调整架构可提供Mini & Macro LED驱动IC、CMOS影像传感器(CIS)、及3D影像测试等解决方案.
  • 装机数、稳定度及成本效益获得广泛印证
    装机数、稳定度及成本效益获得广泛印证
    3380系列VLSI测试系统无论在装机、稳定度及成本效益上,长期以来皆已于中国大陆市场获得广泛印证.
应用领域
  • ■ 微控制器单元(MCU)
  • ■ ADC/DAC混合和讯号IC
  • ■ 逻辑IC
  • ■ ADDA
  • ■ ALPG
  • ■ Smart Card
  • ■ Mini & Macro LED驱动IC
  • ■ LED驱动IC
  • ■ CMOS影像传感器(CIS)
  • ■ 电源IC (Class D IC)
  • ■ 消费性IC
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